LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組 信號(hào)分析儀

LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組包含2個(gè)無源近場(chǎng)探頭，用于在研發(fā)階段以高時(shí)鐘頻率測(cè)量電子模塊上的電場(chǎng)和磁場(chǎng)，頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進(jìn)行測(cè)量，比如貼近單個(gè)集成電路引腳、導(dǎo)線、元件及其連接點(diǎn)，從而定位干擾信號(hào)源。通過相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭，能夠測(cè)量出電子模塊上電磁場(chǎng)的方向及其分布。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部有一個(gè)終端電阻。

LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組產(chǎn)品內(nèi)容：

1xSX-E 03, 電場(chǎng)探頭（1GHz-10GHz）

1xSX-R 3-1, 磁場(chǎng)探頭（1GHz-10GHz）

1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測(cè)量電纜

1xCase 4

LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組技術(shù)參數(shù)

頻率范圍:1 GHz - 10 GHz

接口類型：SMA, female, jack

重量：200 g

LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組產(chǎn)品簡介：

SX-E 03型探頭底部的電極尺寸約為4x4mm，用于檢測(cè)定位很小的電場(chǎng)源，例如導(dǎo)線、集成電路板上的單個(gè)元器件。

SX-R 3-1型磁場(chǎng)探頭尺寸小，用于高分辨率測(cè)量高頻磁場(chǎng)，因而能夠識(shí)別出作為潛在干擾源的小元件。此外，由于探頭尺寸小，適于測(cè)量很難靠近的位置，例如集成電路引腳的周圍區(qū)域。