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ES622 系列TLP脈沖IV曲線系統
更新時間：2025-09-30
產品型號：
產品報價：
產品特點：ES622 系列TLP脈沖IV曲線系統是一種先進的 IV曲線表征系統，旨在模擬 ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脈沖）及監控器件（半導體、分立器件、電路模塊等）的高功率時域特性。相比前代的ES620及ES621型號，ES622 TLP系統規格更高，功能更多，擴展能力更強，軟件體驗更佳。
ES622 系列TLP脈沖IV曲線系統的詳細資料：
ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國密蘇里州羅拉創立。ESDEMC 開發 ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創新、先進、高質量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測試服務和定制項目。產品包括充電設備模型 (CDM) 系統、電纜放電事件 (CDE) 系統、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設計。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協會的企業會員。
ES622 系列TLP脈沖IV曲線系統是一種先進的 IV曲線表征系統，旨在模擬 ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脈沖）及監控器件（半導體、分立器件、電路模塊等）的高功率時域特性。相比前代的ES620及ES621型號，ES622 TLP系統規格更高，功能更多，擴展能力更強，軟件體驗更佳。
傳輸線脈沖(TLP)測試功能旨在滿足最新的ANSI/ESD STM5.5.1測試標準，將高質量矩形脈沖注入被測器件，并記錄器件兩端的電壓和通過的電流。測試軟件可自動繪制脈沖IV曲線，并在納秒級時間窗口內表征器件的瞬態響應。設備集成了先進的自動器件故障檢測方法，例如：DC單點檢測（V或I）、靜態IV曲線、熔斷、擊穿和偏置源波動。
VF-TLP測試旨在模擬CDM類型的ESD事件，并捕捉高速（例如<100 ps上升時間）ESD注入下DUT兩端的電壓和通過DUT的電流。這種測試可用于研究器件的響應速度和峰值鉗位電壓等特性。
人體金屬模型(HMM)測試功能是IEC61000-4-2系統級ESD的替代測試方法。它為低阻值設備提供了理想的等效波形，并消除了組件或晶圓級測試的許多IEC槍測試問題，例如可重復性差,槍尖注入位置不精確,阻抗不匹配,來自非屏蔽繼電器的EMI干擾以及需要大接地平面和耦合平面的特殊裝置要求等。
產品特點
■ 可靈活配置的TLP脈沖IV曲線系統
■ 超緊湊的設計
■ 具有多線程處理能力的超快測試速度
■ 提供20 A、40A、50 A、100 A、125A、150 A型號（可定制）
■ 先進的測試軟件，可程控、監測系統測試設備和附件（開關壽命檢測、E-CAL模塊、示波器衰減調整提示等）
■ 可拓展多種測試功能:VF-TLP、HMM、HBM、MM
■ 多種故障自動檢測方式（DC單點檢測（V或I）或IV掃描、熔斷、擊穿和偏置電流變化）
■ 軟件控制脈沖：單個脈沖、連續脈沖、IV曲線掃描測試
■ 上升時間可選范圍：40 ps至1200 ns（取決于型號，可定制）
■ 脈沖寬度可選范圍：0.5 ns至2000 ns（取決于型號，可定制）
產品應用
■ ESD性能表征
■ 晶圓/封裝級ESD測試
■ 系統/電路模塊ESD測試
■ 安全操作區（SOA）測試
■ 充電恢復時間測試
■ 太陽能電池板二極管特性
■ 觸摸屏ITO微帶線熔斷和擊穿測試
相關標準：
■ TLP / VF-TLP選項符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準?HMM選項符合ANSI/ESD SP5.6標準
■ HBM選項符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001標準
■ MM選項符合ANSI/ESDA SP5.2標準
ES622 系列TLP脈沖IV曲線系統產品規格
| ES622系列TLP單元規格表 | |||||||
| 典型型號 | ESS622-20 | ESS622-50 | ESS622-100 | ESS622-125 | ESS622-150 | 單位 | *可根據要求提供特殊型號，例如40/60/80/100/200+A |
| 開路輸出電壓 | ± 0.5 ~1000 | ± 0.5 ~2500 | ± 0.5 ~5000 | ± 0.5 ~6250 | ± 0.5 ~7500 | V | |
| 最小電壓步長 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | V | |
| 短路輸出電流 | ± 0.01 ~20 | ± 0.01 ~50 | ± 0.01 ~100 | ± 0.01 ~125 | ± 0.01 ~150 | A | |
| 電壓精度 | 精度可在1-10%之間調節 | % | 速度/精度軟件可調 | ||||
| 最快上升時間*（默認20-80%） | ≤50 | ≤200 | ≤300 | ≤300 | ≤300 | ps | 最快可提供40ps（10-90%）上升時間 |
| 上升時間范圍 | 0.04~1200 | 0.2~1200 | 0.3~1200 | 0.3~1200 | 0.3~1200 | ns | |
| 上升時間選項 | 無限可編程或手動選項 | 可定制 | |||||
| 默認脈寬 | 100±1 | ns | 50-50% | ||||
| 最小脈寬 | 0.5 | 1 | 5 | 5 | 5 | ns | |
| 最大脈寬 | 2000 | 2000 | 1500 | 1500 | 1000 | ns | |
| 脈寬選項 | 無限可編程或手動選項 | 可定制 | |||||
| 測試速度 | 通常0.2~2 | Sec | 因硬件設置而異 | ||||
| 尺寸 | 347 W X 300 D X 145 H | mm | 可能因定制而改變 | ||||
| 重量 | 8 | 8 | 8 | 10 | 12 | kg | |
| 支持的示波器 | Tektronix, Agilent, LeCroy, Rigol的主要系列 | 其他可根據要求支持 | |||||
| 支持的SMU | Keithley 24xx/26xx系列SMU | 其他可根據要求支持 | |||||
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